利用高精度質子磁測儀器,采用高斯*位置測定磁性標本。使標本架上傾斜板麵垂直於地磁場T_0的磁力線,使標本的中心與探頭中心等高,根據標本磁性的強弱,可調節標本與探頭的距離(不小於15 cm)。根據上述原理設計並製造了磁參數測量裝置.與PM-2高精度質子磁力儀配套使用,大大提高了磁性參數的準確度。

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更新時間：2022-07-12
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磁力儀(yi) 標本架/磁性測定標本架

利用高精度質子磁測儀(yi) 器,采用高斯*位置測定磁性標本。使標本架上傾(qing) 斜板麵垂直於(yu) 地磁場T_0的磁力線,使標本的中心與(yu) 探頭中心等高,根據標本磁性的強弱,可調節標本與(yu) 探頭的距離（不小於(yu) 15 cm）。根據上述原理設計並製造了磁參數測量裝置.與(yu) PM-2高精度質子磁力儀(yi) 配套使用,大大提高了磁性參數的準確度。

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